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MANOWAR

金虫 (正式写手)

[交流] XRD 2θ-ω扫描的峰,其半高宽用以表征什么? 已有9人参与

以下是我的理解:
一般通过XRD 2θ-ω 扫描的谱线,可以得到材料的成分,因为每一种成分都会对应一个峰。
XRD的ω扫描的半高宽用来表征材料的质量,因为此数据与位错等信息有关。
那么XRD 2θ-ω扫描的半高宽是用来表征什么的呢?好像这个数据很少见。
我偶读文献,看到此数据,有些不明白,拿出来跟大家交流一下。请不吝赐教~
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wuli2011

铜虫 (小有名气)


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引用回帖:
6楼: Originally posted by MANOWAR at 2011-11-25 10:49:38:
您是说通过2θ-ω扫描的峰的半高宽晶粒尺寸吗?那这个晶粒尺寸的大小能够说明晶体材料哪些性质?
再次感谢!

我认为应该可以反映这一点,尺寸大小反映的性质也有很多吧,请楼主针对不同的材料查阅文献吧
10楼2011-11-29 19:18:32
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莱古拉斯

木虫 (小有名气)

★ ★ ★
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lichun1210(金币+2): 感谢交流~ 2011-11-25 02:13:48
根据半高宽,用谢乐公式:D=kγ/Bcosθ 可以计算粒径。
谢乐公式中的波长是做X射线衍射的靶的光源波长。一般为Cu靶,取0.1542nm,k为晶体形状因子,对于球形一般取0.89,B为半峰宽(弧度),θ 为衍射角。XRD分析软件一般自带粒径计算插件
我的爱天下不止有风吹过
2楼2011-11-24 23:36:52
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drg1984

荣誉版主 (著名写手)

奋斗

★ ★ ★
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帝夫(金币+2): 不错的回答哦! 2011-11-25 11:13:10
一般通过XRD 2θ-ω 扫描的谱线,可以得到材料的成分,但不是每一种成分都会对应一个峰。是对几个峰。
春有百花秋有月,夏有凉风冬有雪。若无闲事挂心头,便是人间好时节。
3楼2011-11-25 08:43:35
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wuli2011

铜虫 (小有名气)

★ ★ ★
小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖
帝夫(金币+2): 感谢交流! 2011-11-25 11:13:19
我认为样品有不同的成分,每种成分都有几个峰,每个峰都对应某一个成分的某一个晶面。用谢乐公式,就能计算该反射晶面方向的晶粒尺寸
4楼2011-11-25 10:45:15
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