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大家好 以前我分析成键都用DOS+ELF+Bader 最近的一个工作 我师姐建议做下电荷差分密度(charge density difference) 我没做过 请大家帮忙 谢了先!
1)求用vasp做过电荷密度差分的文献 这个用ISI实在不好查 老板催工作我时间又不多- - 如果同学手上有现成的文献给我参考 感激不尽
2)查了下论坛原来的帖子 找到一个我认为比较好的参考贴[http://muchong.com/bbs/viewthread.php?tid=2129228](我不知道如何给他金币,版主看到了教下我,呵呵),渔火江枫 的 先引用下:
VASP与电荷密度差
一般分为:差分电荷密度图(deformation charge density),二次差分电荷密度图(difference charge density)
两者的区别有很多种说法,其中一种定义认为:
差分电荷定义为成键后的电荷密度与对应的点的原子电荷密度之差。通过差分电荷密度的计算和分析,可以清楚地得到在成键和成键电子耦合过程中的电荷移动以及成键极化方向等性质。
“二次”是指同一个体系化学成分或者几何构型改变之后电荷的重新分布。
如何做对电荷密度做差,目前有两个版本的公式:
![]()
人认为公式(1)和差分电荷密度的定义比较吻合,但是这种方法会产生很多干扰信息,而文献中常用的是公式(2)。
如何用VASP做电荷密度差图?
① 对优化后的结构做静态自洽计算
要注意的是,AB、A和B要分别放在同样大小的空间格子中并保证A和B与AB中相应坐标不变,计算时也要保证三次自洽计算所采用的FFT mesh 一致(NGXF,NGYF,NGZF)。
INCAR中几个注意的参数:
IBRION = -1;NSW = 0;
NGXF,NGYF,NGZF
② 做差
将第一步得到的三个CHGCAR文件依次命名为CHGCAR1、CHGCAR2、CHGCAR3,采用脚本程序按照公式②对三个文件做差,得到CHGdiff文件。
③ 视图
3D显示可以将得到的CHGdiff文件添加vasp后缀(CHGdiff.vasp),用VESTA读取,另外VESTA也可以做2D切面,缺点是没有标度。
2D的显示也可以用lev00去做切面,然后用origin作图,得到的2D面电荷密度差带有标度便于分析(具体做法可参阅lev00说明书)。
好了 我的问题就是 比如我的体系 基底是A材料 然后呢是多个B原子吸附或者是嵌入(这里你视为化学键合的作用就行),形成了A(B)n,对上面的公式2应用到我的体系如何处理?比如说步骤中的1,2步 B做静态自洽计算的时候 是n个B一起算(我理解是扣除A的所有坐标得n个B的坐标,不知对否)还是一个一个B分开算,如果是分开,那脚本做CHGdiff如何做呢?如果都不是,请教下我该如何做,谢谢!
[ Last edited by xiao72379 on 2011-5-25 at 10:32 ] |