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[交流]
【讨论】请问各位大侠：关于功函数测试有何有效办法？请不吝赐教
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各位大侠，一般采用UPS和开尔文探针功函数测试，请问大家有没有碰到测试结果与体材料（或一般报道结果）相差甚大？ 影响功函数的一般因素有哪些？关于半导体UPS结果分析是否有深入研究文献或理论。 各位大侠，不吝赐教，谢谢！ [ Last edited by Frank18711 on 2011-4-3 at 10:07 ] |
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2楼2011-04-02 21:32:13
3楼2011-04-02 21:56:04
Frank18711(金币+3): Thank you for giving me so much information 2011-04-03 10:08:47
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Many techniques have been developed based on different physical effects to measure the electronic work function of a sample. They can be classified into two groups: the absolute method and relative method. Absolute electron emission method： Photoemission Thermionic emission Field electron emission Electron tunneling (STM) Relative contact potential difference method： Kelvin probe force microscope. It is not a good method because of limited success (potential “drifting,” no absolute reference, lack of sensitivity). |
4楼2011-04-03 09:54:42
5楼2012-12-26 14:06:04