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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 无机非金属 » 交流探讨 » 【讨论】请问各位大侠：关于功函数测试有何有效办法？请不吝赐教
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Frank18711

木虫 (正式写手)

[交流] 【讨论】请问各位大侠：关于功函数测试有何有效办法？请不吝赐教

各位大侠，一般采用UPS和开尔文探针功函数测试，请问大家有没有碰到测试结果与体材料（或一般报道结果）相差甚大？
    影响功函数的一般因素有哪些？关于半导体UPS结果分析是否有深入研究文献或理论。
    各位大侠，不吝赐教，谢谢！

[ Last edited by Frank18711 on 2011-4-3 at 10:07 ]
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1楼2011-04-02 19:51:02
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Frank18711

木虫 (正式写手)
引用回帖:
Originally posted by yuh1984 at 2011-04-02 21:32:13:
你测量的是什么材料啊，薄膜还是什么？你的体材料指的是什么？
功函数测量是不是对表面清洁度有很大要求啊？我就发现不同资料给的金属的功函数还不同呢？我也想知道什么原因

测量的是半导体薄膜材料。测量应该要求高的表面洁净度。
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3楼2011-04-02 21:56:04
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