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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 合成表征 » 【求助】荧光光谱仪狭缝和强度的关系
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lqingh506

铁杆木虫 (知名作家)

[交流] 【求助】荧光光谱仪狭缝和强度的关系

实验室用的仪器是瓦里安的荧光光谱仪，有个样品用狭缝都为5nm的去测，荧光强度就超过1000了，所以换成了2.5nm的狭缝去测，得到一个很好的图谱。另外一个样品用5nm的去测荧光强度都很小，现在我要比较这两个样品的荧光强度，那该怎么办啊？有换算关系吗？
有遇到类似情况的么？
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1楼 2011-03-27 08:54:36
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刚果红

新虫 (小有名气)
★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
引用回帖:
11楼: Originally posted by zcjchina at 2011-04-02 20:38:48
要比较不同产品的荧光强度，那么首先应确保测试条件相同吧，不然有什么可比性？测试角度，狭缝大小，所用的滤光片，减光片，包括激发波长，发射波长都应该一致，难道不是这样吗？

其实狭缝并不影响真实的荧光值，真实的应该值只不过通过这些数字表征而已所以在一定范围内应该可以换算的。不过最好测定是在同一条件下。
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13楼2014-07-08 20:22:23
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有尾熊

至尊木虫 (著名写手)
★
lqingh506(金币+1): 2011-03-27 11:17:32
wandaohzl(金币+1): 鼓励交流 2011-03-27 16:45:15
光谱强度本身就是个相对值，测试条件都不一样，怎么对比呢？不能换算的
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2楼2011-03-27 09:22:57
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fengye0909

金虫 (小有名气)
lqingh506(金币+1): 2011-03-27 11:17:35
可以通过该电压大小与狭缝大小同时调节
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3楼2011-03-27 09:45:39
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wandaohzl

荣誉版主 (著名写手)
lqingh506(金币+1): 2011-03-28 09:41:26
影响因素很多，一般情况没有明显的可比性需控制其他条件尽量相似
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4楼2011-03-27 16:46:10
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