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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 合成表征 » 【求助】荧光光谱仪狭缝和强度的关系
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lqingh506

铁杆木虫 (知名作家)

[交流] 【求助】荧光光谱仪狭缝和强度的关系

实验室用的仪器是瓦里安的荧光光谱仪，有个样品用狭缝都为5nm的去测，荧光强度就超过1000了，所以换成了2.5nm的狭缝去测，得到一个很好的图谱。另外一个样品用5nm的去测荧光强度都很小，现在我要比较这两个样品的荧光强度，那该怎么办啊？有换算关系吗？
有遇到类似情况的么？
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1楼 2011-03-27 08:54:36
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zcjchina

银虫 (小有名气)
lqingh506(金币+1): 2011-04-25 13:39:42
要比较不同产品的荧光强度，那么首先应确保测试条件相同吧，不然有什么可比性？测试角度，狭缝大小，所用的滤光片，减光片，包括激发波长，发射波长都应该一致，难道不是这样吗？
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11楼2011-04-02 20:38:48
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有尾熊

至尊木虫 (著名写手)
★
lqingh506(金币+1): 2011-03-27 11:17:32
wandaohzl(金币+1): 鼓励交流 2011-03-27 16:45:15
光谱强度本身就是个相对值，测试条件都不一样，怎么对比呢？不能换算的
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2楼2011-03-27 09:22:57
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fengye0909

金虫 (小有名气)
lqingh506(金币+1): 2011-03-27 11:17:35
可以通过该电压大小与狭缝大小同时调节
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3楼2011-03-27 09:45:39
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wandaohzl

荣誉版主 (著名写手)
lqingh506(金币+1): 2011-03-28 09:41:26
影响因素很多，一般情况没有明显的可比性需控制其他条件尽量相似
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4楼2011-03-27 16:46:10
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