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【求助】关于XRD粉末衍射制样细节的问题【各种回答让我迷茫了，求权威】
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扫描SBA-15类的物质，小角度。样品是不动的。 样品台是个小方片，中间有个圆形的凹槽的，你懂的。把样品加入凹槽中，然后用玻璃片压实，问题来了，最后在凹槽外样品台上会残留一些样品，会对实验结果有影响吗？要不要吹掉？ [ Last edited by sacredsoul on 2010-11-30 at 09:24 ] |
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 锂离子电池专题（技术答疑） | XRD分析 |
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★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★
小木虫(金币+0.5):给个红包，谢谢回帖交流
zhangwengui330(金币+2):谢谢应助！！ 2010-11-29 11:21:40
jinkai838(金币+3):3Q 2010-12-02 11:39:46
tangjy(金币+1):欢迎常来催化讨论！ 2010-12-02 13:41:26
zxrno10(金币+1): 2010-12-03 18:58:29
小木虫(金币+0.5):给个红包，谢谢回帖交流
zhangwengui330(金币+2):谢谢应助！！ 2010-11-29 11:21:40
jinkai838(金币+3):3Q 2010-12-02 11:39:46
tangjy(金币+1):欢迎常来催化讨论！ 2010-12-02 13:41:26
zxrno10(金币+1): 2010-12-03 18:58:29
| 必须严格擦拭干净！不仅是为了防止污染仪器，也是为了避免给测试结果引入可能的误差。SBA-15类物质的起始扫描角度很低，有时2Theta角只有0.5度，几乎就是水平掠过样品托架，不仅要求样品平面尽量平，而且要求与样品托架水平面共面，才能测准衍射角。如果两个平面的面间距为0.1mm，可以造成角度偏差0.1度以上，这对计算SBA-15类物质的晶面间距是个难以容忍的误差。而样品托架上多余的粉末如果可以被X光照射到，不仅在谱图中会叠加上峰位置不正确的衍射信号，也会吸收、散射甚至阻挡X光，使谱图严重失真！ |
10楼2010-11-29 11:02:46
★ ★ ★ ★
zhangwengui330(金币+4):谢谢应助！！！ 2010-12-03 21:46:52
zhangwengui330(金币+4):谢谢应助！！！ 2010-12-03 21:46:52
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理解基本正确。在B-B几何条件下，采用Theta/2Theta配置时一般是光源静止、样品台随探测器运动，而采用Theta/Theta配置时则是样品台静止、光源与探测器相向运动，但这种所谓的静止是针对B-B几何平面而言的。对线焦光源而言，X-光辐照的位置实际是位于样品载片平面上中心位置垂直于B-B几何平面的一个狭长的矩形，且此矩形的面积随入射角减小而增大(其高增大)，其长(宽度)主要决定于光源的线焦宽度和Soller狭缝，因此对于制样而言，样品在此矩形覆盖的范围内既要求保证平整又必须与样品载片平面共面。对于采用三足接触固定样品载片上平面的测试方式，这类仪器测试时样品要么静止要么只能在B-B几何平面上摆动，通常无法沿样品载片平面法向转动，此时矩形X-光辐照的位置上只要有压平整且与载片平面共面的样品，无论在载片上样品压成带状或其它位置是否覆盖完全，均不会影响测试结果。倘若仪器支持样品沿载片平面法向转动，则样品不能再压成带状而必须压成至少直径大于“矩形”长度的圆面。至于散落在载片上的样品，对角度偏差的影响如导致角度偏移和峰宽化以及对峰强度的影响，一般仅在一些极端情况下出现，如散落位置靠近载片中部且显著高出载片平面、入射角很低(这在介孔材料小角度中很常见)等。但无论如何，保持除载样处外载片平面上其它位置清洁是对测试人员起码的要求，也反映研究者的实验素养。当然，如果不抹掉或刮除多余样品是为了避免造成择优取向，在支持样品沿载片平面法向转动的仪器上这种顾虑完全多余，而对不支持这种操作的仪器，可以设计框式样品架，将其放置于平整面上，在框内填满样品压实，然后以背面进行测试。 |
20楼2010-12-03 18:34:46