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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 无机非金属 » 前沿热点 » 【求助】ZrO2的XRD谱线峰更加尖锐，说明什么问题[急]？
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user11

银虫 (小有名气)

[交流] 【求助】ZrO2的XRD谱线峰更加尖锐，说明什么问题[急]？已有10人参与

对xrd分析 一窍不通， xrd达人 替我分析一下

同种粉末 不同工艺下  谱线的高度变化 如下图 是含量变化了 还是结晶的影响

谢谢～ 不是很明白 急用啊/////
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1楼2010-11-06 16:25:38
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njutzl

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csuhcb2000(金币+1):欢迎交流 2010-11-08 11:41:02
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Originally posted by nktornado at 2010-11-08 09:47:36:
先说点问题：xrd粉末用量不一样，也会影响强度。所以强度的确不能直接用来对比，除非你内标或者外标做半定量分析。

回答楼主的问题：你的两张xrd谱图，从小到大的角度来看，第1,3的衍射峰强度并没有太大变化， ...

同意楼上，其他人所说的都没有关注到要点，而2,4峰对应相对强度的差异可能是你要解释和关心的
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7楼2010-11-08 10:21:22
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njutzl

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Originally posted by user11 at 2010-11-08 13:30:27:


谢谢楼上的各位 是同种粉末制备的陶瓷涂层  只工艺上存在差异   谢乐公式 我看过的资料适用于 晶粒尺寸小于100nm， 这个晶粒尺寸指的是什么？  扫描电镜标尺得到的尺寸是否可信呢

晶粒尺寸不是颗粒尺寸，扫描电镜看到的是颗粒尺寸，晶粒是指一个周期性排列的完整结构，其取向一致，是一个单晶，内部为单相，无晶界，而一个颗粒包含很多晶粒，晶粒之间有晶界
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12楼2010-11-08 17:37:46
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njutzl

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csuhcb2000(金币+2):欢迎常来交流 2010-11-09 10:04:36
引用回帖:
Originally posted by user11 at 2010-11-08 18:35:54:


谢谢你的指教， 那既然谢乐公式适用的是晶粒尺寸<100nm， 那么是否就是说在使用谢乐公式的时候 必须采用其他方法 比如TEM等 先确定晶粒尺寸大小～ 那谢乐公式没意义了吧

如何判断谢乐公式的适用性呢 如 ...

不用，如果你不是精确确定晶粒尺寸的话，先用谢乐公式就够了，此时你计算得到的晶粒尺寸小于100nm的话，测量值与实际值接近，反之，则测量值小于实际值。
再者如果晶粒尺寸大于100nm了，那颗粒尺寸大了去了，可能都不适合做X射线衍射了了，通常即使是几十微米的粉晶材料用谢乐公式也可以的
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15楼2010-11-09 08:32:37
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