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user11

银虫 (小有名气)

[交流] 【求助】ZrO2的XRD谱线峰更加尖锐,说明什么问题[急]?已有10人参与

对xrd分析 一窍不通, xrd达人 替我分析一下

同种粉末 不同工艺下  谱线的高度变化 如下图 是含量变化了 还是结晶的影响

谢谢~ 不是很明白 急用啊/////



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njutzl

至尊木虫 (正式写手)

★ ★ ★
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csuhcb2000(金币+2):欢迎常来交流 2010-11-09 10:04:36
引用回帖:
Originally posted by user11 at 2010-11-08 18:35:54:


谢谢你的指教, 那既然谢乐公式适用的是晶粒尺寸<100nm, 那么是否就是说在使用谢乐公式的时候 必须采用其他方法 比如TEM等 先确定晶粒尺寸大小~ 那谢乐公式没意义了吧

如何判断谢乐公式的适用性呢 如 ...

不用,如果你不是精确确定晶粒尺寸的话,先用谢乐公式就够了,此时你计算得到的晶粒尺寸小于100nm的话,测量值与实际值接近,反之,则测量值小于实际值。
再者如果晶粒尺寸大于100nm了,那颗粒尺寸大了去了,可能都不适合做X射线衍射了了,通常即使是几十微米的粉晶材料用谢乐公式也可以的
15楼2010-11-09 08:32:37
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xianyunshui

银虫 (正式写手)


小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖交流
结晶性越好、粒径越大,峰越高,越窄
2楼2010-11-06 19:14:43
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explorer2009

新虫 (初入文坛)

需要用到原始数据(测XRD的raw文件),用jade软件可分析

★ ★
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csuhcb2000(金币+1):欢迎交流 2010-11-08 11:40:39
楼上的说的不错。不知道你测的是粉末还是薄膜?你可以把这两个峰放在一个背景下进行比较。先看峰位能不能对上标准谱,如能对上,在看峰强,强度高的说明结晶性好一些,结晶的粒径要大一些。可以近似用半高宽(谢乐公式)大体计算粒径。
3楼2010-11-08 02:25:16
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explorer2009

新虫 (初入文坛)

以上说法仅供参考,还请高手给以指正

★ ★
小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖交流
csuhcb2000(金币+1):欢迎交流 2010-11-08 11:40:43
你的XRD图的纵坐标的强度大小没有意义,都是比较相对强度的。对不同样品,应在同一噪音背景下测量,不然,它们的对比可信度不高。
4楼2010-11-08 02:28:20
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