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user11

银虫 (小有名气)

[交流] 【求助】ZrO2的XRD谱线峰更加尖锐,说明什么问题[急]?已有10人参与

对xrd分析 一窍不通, xrd达人 替我分析一下

同种粉末 不同工艺下  谱线的高度变化 如下图 是含量变化了 还是结晶的影响

谢谢~ 不是很明白 急用啊/////



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科研分析测试服务QQ:83064043
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njutzl

至尊木虫 (正式写手)

★ ★
小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖交流
csuhcb2000(金币+1):欢迎常来交流 2010-11-09 10:04:04
引用回帖:
Originally posted by user11 at 2010-11-08 13:30:27:


谢谢楼上的各位 是同种粉末制备的陶瓷涂层  只工艺上存在差异   谢乐公式 我看过的资料适用于 晶粒尺寸小于100nm, 这个晶粒尺寸指的是什么?  扫描电镜标尺得到的尺寸是否可信呢

晶粒尺寸不是颗粒尺寸,扫描电镜看到的是颗粒尺寸,晶粒是指一个周期性排列的完整结构,其取向一致,是一个单晶,内部为单相,无晶界,而一个颗粒包含很多晶粒,晶粒之间有晶界
12楼2010-11-08 17:37:46
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xianyunshui

银虫 (正式写手)


小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖交流
结晶性越好、粒径越大,峰越高,越窄
2楼2010-11-06 19:14:43
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explorer2009

新虫 (初入文坛)

需要用到原始数据(测XRD的raw文件),用jade软件可分析

★ ★
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csuhcb2000(金币+1):欢迎交流 2010-11-08 11:40:39
楼上的说的不错。不知道你测的是粉末还是薄膜?你可以把这两个峰放在一个背景下进行比较。先看峰位能不能对上标准谱,如能对上,在看峰强,强度高的说明结晶性好一些,结晶的粒径要大一些。可以近似用半高宽(谢乐公式)大体计算粒径。
3楼2010-11-08 02:25:16
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explorer2009

新虫 (初入文坛)

以上说法仅供参考,还请高手给以指正

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csuhcb2000(金币+1):欢迎交流 2010-11-08 11:40:43
你的XRD图的纵坐标的强度大小没有意义,都是比较相对强度的。对不同样品,应在同一噪音背景下测量,不然,它们的对比可信度不高。
4楼2010-11-08 02:28:20
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