应《网络安全法》要求，自2017年10月1日起，未进行实名认证将不得使用互联网跟帖服务。为保障您的帐号能够正常使用，请尽快对帐号进行手机号验证，感谢您的理解与支持！

24小时热门版块排行榜    

小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 合成表征 » 【请教】XPS depth profiling 测试分析Zn和O比例问题
21/1返回列表
查看: 1488  |  回复: 7
查看全部回帖 @他人 存档 新回复提醒 (忽略) 收藏    在APP中查看
当前只显示满足指定条件的回帖，点击这里查看本话题的所有回帖

ling860

金虫 (正式写手)

[交流] 【请教】XPS depth profiling 测试分析Zn和O比例问题

样品是ZnO掺杂Al，EDS能谱显示Al5%。但是深度剖析发现铝的含量20%。测试中铝采用扫描8次，而Zn和O信号好，只扫描一次。 请教是否是测试的问题。我想要的结果就是ZnO掺杂Al，Al的含量很少。



[ Last edited by ling860 on 2010-11-5 at 15:17 ]
回复此楼

» 猜你喜欢

» 本主题相关价值贴推荐，对您同样有帮助:
1楼 2010-11-05 13:40:04
已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖
相关版块跳转 我要订阅楼主 ling860 的主题更新
21/1返回列表
普通表情 龙 兔 虎 猫 高级回复 (可上传附件)
信息提示
关闭
请填处理意见
关闭