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haosir88木虫 (小有名气)
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[交流]
【请教】在Si（100）基片上沉积的薄膜测量XRD图解。 已有8人参与
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| 在Si（100）基片上沉积的薄膜测量XRD时，可观测到Si（400）衍射峰与Si（200）衍射峰，然而Si（200）是满足系统消光条件，为什么依然能观测到？请高手指点。 |
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haosir88
木虫 (小有名气)
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3楼2010-09-13 17:32:32
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小木虫(金币+0.5):给个红包，谢谢回帖交流
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Si（200）并没有消光。几何结构因子F(G)=4f。你可以算一下看是不是。 Si是金刚石结构，对（200）面： F(G)=f[1+e^iPI(h/2+k/2+l/2)]+e^iPI(h+k)+e^iPI(h+l)+e^iPI(k+l)+e^iPI(h/2+3k/2+3l/2)+e^iPI(3h+3k/2+l/2)+e^iPI(3h/2+k/2+3l/2)=f(1+e^iPI+e^2iPI+e^2iPI+1+e^iPI+e^3iPI+e^3iPI)=f(1+0+1+1+1+0+0)=4f 没有消光。不知道有没有算错，可以验算下。呵呵  |
2楼2010-09-13 12:47:22
4楼2010-09-14 08:36:52
白兆山
木虫 (正式写手)
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5楼2010-09-16 15:32:27
