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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 金属 » 测试表征 » 【讨论】分析晶界偏聚与试样制备
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ttkxgp7978

木虫 (正式写手)

[交流] 【讨论】分析晶界偏聚与试样制备 已有9人参与

钢中添加微量元素，原子半径比较大，理论上偏聚在界面，最好的方法是做界面分析，俄歇探针或者离子探针，但是目前没有这些条件，想通过SEM做面扫描看看能否有变化。
目前有两个可用资源，一个是场发射SEM+EBSD，需要排队个月，另一个传统SEM，排队1个星期。

现在考虑，传统SEM需要腐蚀组织，然后才能找到界面，进行分析，是否会因为晶界腐蚀以后就检测不到微量界面富集行为了？
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1楼 2010-06-01 08:57:32
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ygxghsy

木虫 (小有名气)
★ ★
小木虫(金币+0.5):给个红包，谢谢回帖交流
jic8417(金币+1):谢谢参与。 2010-06-04 20:45:03
SEM在元素含量很低的情况下是检测不出的
赞一下(2人) 回复此楼
8楼2010-06-01 19:40:19
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