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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 合成表征 » 【求助】微米级颗粒如何用TEM分析？
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金虫 (正式写手)

[交流] 【求助】微米级颗粒如何用TEM分析？ 已有3人参与

我合成了一下颗粒，但是是微米级的，尺寸在2-3微米，比较大，这样如何用TEM表征啊？该怎么做选取电子衍射啊？
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1楼 2010-05-16 11:03:14
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金虫 (正式写手)
引用回帖:
Originally posted by temedx at 2010-05-16 15:28:39:
找样品颗粒的薄边，应该可以做电子衍射的

这样需要颗粒以一种特定的方位“放置”吧？这样可能恰巧棱边处较薄一点

一种正方体的有可能找到这样的薄边，但是还有一种n面体的好久就比较困难了，感觉

TEM一般能打透的厚度是多少啊？是不是也取决于不同投射电镜的加速电压啊？
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4楼2010-05-16 16:24:02
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金虫 (正式写手)
引用回帖:
Originally posted by ggrk at 2010-05-16 16:23:34:
微米级没问题吧，楼主最好咨询操作员

我们的电镜有点古老啊，但是合成的颗粒测不了，正方体的不行，还有一种n面体的也不好测，几百nm的薄膜还行
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5楼2010-05-16 16:27:43
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金虫 (正式写手)
引用回帖:
Originally posted by ggrk at 2010-05-16 16:52:39:
那SEM呢？见过很多纳米颗粒图片很有立体感，但是作者都说是SEM，楼主问一下是怎么测的。我做的SEM没没做过那样的呵呵

我的扫描也很有立体感
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7楼2010-05-16 17:06:53
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金虫 (正式写手)
引用回帖:
Originally posted by temedx at 2010-05-16 17:16:02:
200 kV的一般建议100 nm，最多200 nm了。

那么说我的样品能分析成功就得靠运气找薄边了
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9楼2010-05-16 19:04:00
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