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球磨后微米级粉体TEM制备样品 已有2人参与
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| 各位同学。球磨后一般得到微米级粉体，想用TEM观察其内部晶粒尺寸。但是微米级粉体的TEM制样很困难。有的国外课题组用FIB制样，但是FIB时间很长、价格昂贵。还有其他的方法制备这种微米级粉体的TEM样？ |
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 粉体科学技术与表征 |
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2楼2013-04-12 17:51:58
tttl060
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黄石道人3楼2013-04-14 08:48:21
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球磨粉末颗粒大小和形貌分析常用的是Laser sizer 和SEM， 而不是下面的两类。 High resolution SEM and Atom force probe可以观察到晶粒大小。请找找相关的制样方法和相关的文献看看。 XRD line broadening analysis （Sherrer or Williamson-Hall）一般认为适用于100nm以下，但是一般晶粒在30nm以下的是非常的可靠，高于50nm就有出入了，XRD结果偏小。 但是Modified Williamson-Hall方法较前两者更可靠些，当然一般的计算结果都要与电镜结果比较的，证明计算的可信度。 |
5楼2013-04-14 13:15:11
6楼2014-03-25 11:29:09
gxytju2008
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