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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 合成表征 » 【请教】sem和tem的EDS对分析样品的成分有什么不同
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uncompared

金虫 (小有名气)

[交流] 【请教】sem和tem的EDS对分析样品的成分有什么不同已有10人参与

扫描电镜（SEM）和透射电镜(TEM)的EDS对分析样品的成分有什么不同，（一个是分析表面成分，一个是分析内部成分吗？）
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1楼2010-05-03 21:25:28
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haosir88

木虫 (小有名气)
uncompared(金币+1): 2010-05-04 08:55
有条件测XPS。都是用X射线特征谱原理搞定的。
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5楼2010-05-04 08:46:42
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yccycc

木虫 (著名写手)
uncompared(金币+1): 2010-05-04 08:54
SEM的EDS分析的面积大，TEM分析的面积小
所以说还是SEM的可信度高
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2楼2010-05-03 21:57:38
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caodong2000

银虫 (正式写手)
uncompared(金币+1): 2010-05-04 08:55
sem是分析组织形貌 tem分析晶体结构、形貌分析
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3楼2010-05-03 23:09:52
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huanxue3123

木虫 (小有名气)

将军
uncompared(金币+1): 2010-05-04 08:54
SEM TEM 都是主要用来分析形貌。他两相比较TEM的分辨率要高于SEM。TEM给出的是一个平面图，可以告诉你样品的形貌特这，尤其是孔材料用TEM分析最好。SEM是分析表面形貌结构的，给出的是立体图，对观察棒状，球状，等等材料材料有很好的视觉效果。EDS是分析成分的，一般是配套于TEM仪器上。它分析的是样品表面面某个小的部分的元素组成，不能代表样品整体组成。。。
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莫使少懒悔晚年
4楼2010-05-04 08:22:59
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