| 查看: 800 | 回复: 3 | ||
| 当前只显示满足指定条件的回帖，点击这里查看本话题的所有回帖 | ||
[求助]
使用AFM表征二维材料时（已转移到SiO2），怎样做到在材料表面划开一道口子测高度？ 已有1人参与
|
||
|
我是在文献中看到的，作者为了测二维材料高度，将材料先转移带SiO2上，然后不知道用什么工具在材料表面划出了一道规则的缺口，可以看到SiO2表面，最后使用AFM测二维材料高度。请问各位师兄师姐，他们是怎样做到的？ 另外我还想问一下，将二维材料转移到TEM grid的时候有什么技巧？我想在TEM中看到切面的层数条痕，自己做过几次都没有成功！ 谢谢你们！  |
回复此楼» 猜你喜欢
求助CaO-Al2O3-Y2O3三元相图
已经有1人回复
-
有没有接收比较快的sci期刊呀，最好在一个月之内的，研三孩子求毕业
已经有7人回复
-
无机非金属材料论文润色/翻译怎么收费?
已经有72人回复
-
2026考博自荐
已经有4人回复
-
温敏水凝胶收缩
已经有0人回复
-
博导推荐
已经有22人回复
-
PDMS膜在溶液中的离子透过率
已经有0人回复
-
关于BiFeO3基流延问题
已经有2人回复
-
攒人品 论文祈福
已经有139人回复
-
国防科技大学空天科学学院招聘启事陶瓷基复合材料方向科研助理招聘
已经有859人回复
-
精准控杂，赋能多孔碳——阜成智能气氛炉成功完成多孔碳钝化杂质探究实验
已经有0人回复
» 本主题相关商家推荐: (我也要在这里推广)
ylfjiayou
新虫 (初入文坛)
- 应助: 0 (幼儿园)
- 金币: 16.5
- 散金: 10
- 帖子: 4
- 在线: 46.1小时
- 虫号: 4418587
- 注册: 2016-02-20
- 专业: 无机非金属基复合材料
4楼2018-03-17 16:11:29
2楼2017-11-07 20:38:22
3楼2017-11-10 22:01:24
