| 查看: 696 | 回复: 3 | |||
[求助]
使用AFM表征二维材料时（已转移到SiO2），怎样做到在材料表面划开一道口子测高度？ 已有1人参与
|
|
我是在文献中看到的，作者为了测二维材料高度，将材料先转移带SiO2上，然后不知道用什么工具在材料表面划出了一道规则的缺口，可以看到SiO2表面，最后使用AFM测二维材料高度。请问各位师兄师姐，他们是怎样做到的？ 另外我还想问一下，将二维材料转移到TEM grid的时候有什么技巧？我想在TEM中看到切面的层数条痕，自己做过几次都没有成功！ 谢谢你们！  |
回复此楼» 猜你喜欢
2026年集成电路封装材料招收全日制博士1-2人。
已经有19人回复
-
2026年集成电路封装材料招收硕士5-7人
已经有24人回复
-
金属材料论文润色/翻译怎么收费?
已经有105人回复
-
金属材料先进连接技术
已经有5人回复
-
材料成型及控制工程
已经有5人回复
-
材料成型及控制工程 材料加工工程
已经有4人回复
-
材料成型及控制工程 材料加工工程
已经有5人回复
-
材料成型及控制工程 材料加工工程
已经有5人回复
-
材料成型及控制工程 材料加工工程
已经有0人回复
-
集成电路封装材料与工艺方向
已经有8人回复
-
欢迎调剂河北建筑工程学院机械工程学院
已经有0人回复
» 本主题相关商家推荐: (我也要在这里推广)
2楼2017-11-07 20:38:22
3楼2017-11-10 22:01:24
ylfjiayou
新虫 (初入文坛)
- 应助: 0 (幼儿园)
- 金币: 16.5
- 散金: 10
- 帖子: 4
- 在线: 46.1小时
- 虫号: 4418587
- 注册: 2016-02-20
- 专业: 无机非金属基复合材料
4楼2018-03-17 16:11:29
20