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使用AFM表征二维材料时(已转移到SiO2),怎样做到在材料表面划开一道口子测高度? 已有1人参与
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我是在文献中看到的,作者为了测二维材料高度,将材料先转移带SiO2上,然后不知道用什么工具在材料表面划出了一道规则的缺口,可以看到SiO2表面,最后使用AFM测二维材料高度。请问各位师兄师姐,他们是怎样做到的? 另外我还想问一下,将二维材料转移到TEM grid的时候有什么技巧?我想在TEM中看到切面的层数条痕,自己做过几次都没有成功! 谢谢你们! |
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2楼2017-11-07 20:38:22
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ylfjiayou
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