| 查看: 655 | 回复: 3 | ||
[求助]
使用AFM表征二维材料时（已转移到SiO2），怎样做到在材料表面划开一道口子测高度？ 已有1人参与
|
|
我是在文献中看到的，作者为了测二维材料高度，将材料先转移带SiO2上，然后不知道用什么工具在材料表面划出了一道规则的缺口，可以看到SiO2表面，最后使用AFM测二维材料高度。请问各位师兄师姐，他们是怎样做到的？ 另外我还想问一下，将二维材料转移到TEM grid的时候有什么技巧？我想在TEM中看到切面的层数条痕，自己做过几次都没有成功！ 谢谢你们！  |
回复此楼» 猜你喜欢
滚塑尼龙改性
已经有4人回复
-
此贴作废
已经有27人回复
-
冶金与矿业论文润色/翻译怎么收费?
已经有296人回复
-
论文投稿推荐
已经有20人回复
-
2026年必看！珠海本土的两家全自动激光粒度分析仪优质厂家，那个更强？
已经有0人回复
-
石油焦研磨后粒径筛选问题求助
已经有4人回复
-
丝网印刷导电碳浆求助求助
已经有0人回复
-
乙烯焦油进行馏程切割做针状焦
已经有1人回复
-
2026-申博自荐-电磁屏蔽复合材料方向
已经有32人回复
» 本主题相关商家推荐: (我也要在这里推广)
2楼2017-11-07 20:38:22
3楼2017-11-10 22:01:24
ylfjiayou
新虫 (初入文坛)
- 应助: 0 (幼儿园)
- 金币: 16.5
- 散金: 10
- 帖子: 4
- 在线: 46.1小时
- 虫号: 4418587
- 注册: 2016-02-20
- 专业: 无机非金属基复合材料
4楼2018-03-17 16:11:29