应《网络安全法》要求，自2017年10月1日起，未进行实名认证将不得使用互联网跟帖服务。为保障您的帐号能够正常使用，请尽快对帐号进行手机号验证，感谢您的理解与支持！

24小时热门版块排行榜    

小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 材料综合 » 材料物理 » 使用AFM表征二维材料时（已转移到SiO2），怎样做到在材料表面划开一道口子测高度？
51/1返回列表
查看: 639  |  回复: 3
只看楼主@他人 存档 新回复提醒 (忽略) 收藏    在APP中查看
当前只显示满足指定条件的回帖，点击这里查看本话题的所有回帖

小虫子咬人了

新虫 (小有名气)

[求助] 使用AFM表征二维材料时（已转移到SiO2），怎样做到在材料表面划开一道口子测高度？已有1人参与

我是在文献中看到的，作者为了测二维材料高度，将材料先转移带SiO2上，然后不知道用什么工具在材料表面划出了一道规则的缺口，可以看到SiO2表面，最后使用AFM测二维材料高度。请问各位师兄师姐，他们是怎样做到的？

另外我还想问一下，将二维材料转移到TEM grid的时候有什么技巧？我想在TEM中看到切面的层数条痕，自己做过几次都没有成功！

谢谢你们！
回复此楼

» 猜你喜欢

» 本主题相关商家推荐: (我也要在这里推广)
1楼2017-11-07 19:31:13
已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖

小虫子咬人了

新虫 (小有名气)
嗯嗯，有道理。

发自小木虫IOS客户端
回复此楼
3楼2017-11-10 22:01:24
 已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖
查看全部 4 个回答

匿名

用户注销 (著名写手)
本帖仅楼主可见
赞一下
2楼2017-11-07 20:38:22
 已阅   申请MEPI   回复此楼   编辑   查看我的主页

ylfjiayou

新虫 (初入文坛)

【答案】应助回帖

楼主找到好的方法了吗，分享一下
赞一下 回复此楼
4楼2018-03-17 16:11:29
 已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖
查看全部 4 个回答
普通表情 龙 兔 虎 猫
信息提示
关闭
请填处理意见
关闭