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使用AFM表征二维材料时（已转移到SiO2），怎样做到在材料表面划开一道口子测高度？已有1人参与
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我是在文献中看到的，作者为了测二维材料高度，将材料先转移带SiO2上，然后不知道用什么工具在材料表面划出了一道规则的缺口，可以看到SiO2表面，最后使用AFM测二维材料高度。请问各位师兄师姐，他们是怎样做到的？ 另外我还想问一下，将二维材料转移到TEM grid的时候有什么技巧？我想在TEM中看到切面的层数条痕，自己做过几次都没有成功！ 谢谢你们！  |
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2楼2017-11-07 20:38:22
3楼2017-11-10 22:01:24
ylfjiayou
新虫 (初入文坛)
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4楼2018-03-17 16:11:29