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关于扫描电镜与背散射成像的问题 已有6人参与
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| 观察扫描电镜之前将金属样品腐蚀的目的是什么,不腐蚀可以观察吗? 相同的问题对于背散射是怎样的? |
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comma
专家顾问 (知名作家)
材料人
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- 专业: 金属材料的微观结构
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【答案】应助回帖
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SEM观察形貌是二次电子(SE)成像,电子发射于样品表层,如光镜一样需要形成明暗衬度,二次电子在样品表面出现衬度需要浮凸,即有斜坡的地方二次电子在荧光屏上的产额多就更亮,若抛光良好不腐蚀,表面就是个大平板,无二次电子分布的明暗衬度; 背散射电子(BSE)也是SEM中重要成像信号,电子发射于较为深层,其主要贡献于成分差别造成的衬度,对比二次电子成像图会发现其显得平面化,不如SE有立体感;此外,由于BSE发射于样品表面较深处,往往能体现出取向差异的衬度,如对于退火再结晶的样品,不需侵蚀就可以用BSE信号观察晶粒形貌,对于像超低碳钢、高纯铝的退火再结晶样品晶界侵蚀非常难,不如用BSE成像观察,会有意想不到的效果 |

5楼2015-11-22 13:11:01
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2楼2015-11-19 11:29:22
peterflyer
木虫之王 (文学泰斗)
peterflyer
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3楼2015-11-19 16:20:36
wacky1980
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4楼2015-11-19 17:50:02










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