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关于扫描电镜与背散射成像的问题 已有6人参与
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| 观察扫描电镜之前将金属样品腐蚀的目的是什么，不腐蚀可以观察吗？ 相同的问题对于背散射是怎样的？ |
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wacky1980
荣誉版主 (文坛精英)
懒羊羊V2.0版
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4楼2015-11-19 17:50:02
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本帖内容被屏蔽 |
2楼2015-11-19 11:29:22
peterflyer 
木虫之王 (文学泰斗)
peterflyer
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3楼2015-11-19 16:20:36
comma
专家顾问 (知名作家)
材料人
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【答案】应助回帖
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SEM观察形貌是二次电子（SE）成像，电子发射于样品表层，如光镜一样需要形成明暗衬度，二次电子在样品表面出现衬度需要浮凸，即有斜坡的地方二次电子在荧光屏上的产额多就更亮，若抛光良好不腐蚀，表面就是个大平板，无二次电子分布的明暗衬度； 背散射电子（BSE）也是SEM中重要成像信号，电子发射于较为深层，其主要贡献于成分差别造成的衬度，对比二次电子成像图会发现其显得平面化，不如SE有立体感；此外，由于BSE发射于样品表面较深处，往往能体现出取向差异的衬度，如对于退火再结晶的样品，不需侵蚀就可以用BSE信号观察晶粒形貌，对于像超低碳钢、高纯铝的退火再结晶样品晶界侵蚀非常难，不如用BSE成像观察，会有意想不到的效果 |
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亦�?5楼2015-11-22 13:11:01
10