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Doris_Lee

铁虫 (小有名气)

[求助] 想看载体上活性组分的分布和分散情况已有4人参与

想要表征活性组分(金属氧化物)在载体(分子筛)上的分布和分散情况,主要是想通过分散度和活性组分颗粒大小来解释其性能,但我的分子筛本身是约1微米左右的立方体颗粒,做TEM根本什么都看不出来,就是一片黑。请问还有没有别的途径可以表征呢?SEM mapping可以吗?或者XPS mapping?材料和催化的门外汉,刚接触不久,求各位前辈指点迷津!
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Doris_Lee

铁虫 (小有名气)

引用回帖:
6楼: Originally posted by 阳春_三月 at 2015-07-02 15:26:33
可以试试透射和能谱结合,设置不同金属颜色,表面金属种类和金属位置分布就能观察到,断面的话麻烦一些

但是晶粒太厚,没法做TEM,所以只能求助于其他方法。谢谢你的回答
8楼2015-07-17 20:09:39
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l419110028

至尊木虫 (文坛精英)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
TEM mapping就可以啊,还有在与xps结合使用啊
2楼2015-06-16 16:42:02
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Doris_Lee

铁虫 (小有名气)

引用回帖:
2楼: Originally posted by l419110028 at 2015-06-16 16:42:02
TEM mapping就可以啊,还有在与xps结合使用啊

我的晶粒太厚了,不能做TEM,看上去一片黑,什么都看不出来。只能用别的手段方法。刚看到有用TPD测定化学吸附来表征的,不知道可否
3楼2015-06-16 21:22:51
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l419110028

至尊木虫 (文坛精英)

【答案】应助回帖

TPD是脱附的测试,主要检查脱附产物组分,最好连接质谱
4楼2015-06-16 21:25:01
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