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雪花飘飘chen

金虫 (小有名气)

[求助] 纳米石墨微片的厚度测量已有3人参与

用AFM测纳米石墨微片的厚度,有什么指标吗?有亲身经验去做过的,可以具体说下过程吗,还有注意的事项,谢谢啦
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石银东

木虫 (正式写手)

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石墨烯是一种柔软、超薄的材料,在石墨烯研究领域,已经有客户尝试用面阻的方法进行测试。具体测量方法就是用面阻测试仪测得方块电阻,在已知石墨烯的电阻率的情况下,就可以计算出薄膜厚度,这是一种非接触、高精度的测量方法,远远优于四探针测量方法。
2楼2015-04-21 10:23:10
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happyever83

禁虫 (职业作家)

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3楼2015-04-21 13:31:20
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fyl1989

金虫 (正式写手)

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其实用接触或轻敲的模式都可以的,两种模式差别不是很大(如果你只看形貌的话),不过有的人比较倾向于用接触模式,毕竟单层石墨又薄又软,所以觉得用基础模式测量会更准确一些。
还有就是针的弹性常数,这个也是取决于你自己,大点的小点的也是都可,因为AFM这设备没有特别确定的东西,你就大概试试就行了,试一下就知道了,其实也很简单的,光听别人描述。
4楼2015-04-21 14:07:16
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gasol

木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

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用AFM测试石墨片厚度的话,还是要看你的样片制备,尤其是样品厚度在几个纳米甚至1nm以下时,主要有两个因素:1.制样时的基底是否平整,
2.溶剂选择以及溶液浓度是否合适否。做AFM最好用云母作为基底,,因为它的表面非常平整,然后就是要选择一种溶剂,使得你的石墨片在溶剂中可以很好的分散,然后配置浓度十分低的(溶液几乎为透明)溶液,然后取一两滴滴涂或者旋涂在云母上,个人建议使用旋涂的方法,干燥后即可去测试AFM
5楼2015-04-22 09:20:33
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