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求大神指教啊,在单晶硅片上,镀了层二氧化硅,怎样精确测二氧化硅厚度?
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leeman911
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求大神帮忙看一下,空间群不对啊
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1楼
2013-07-15 15:57:02
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2013-07-15 21:39:03
如果你能找到椭偏仪或者是光学膜厚仪,可以直接测,不用破坏。
如果是湿法腐蚀后用台阶仪测,完全没有问题,硅和氧化硅的腐蚀速率差别非常大。
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2楼
2013-07-15 16:10:05
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鼓声点点
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leeman911(124685887代发): 金币+2, 积极应助,见解科学
2013-07-15 21:40:13
1,能用椭偏仪测量最好了。
2,湿法刻蚀很难找到一种溶液,对SiO2的刻蚀速率大于Si的。一般SiO2常用来作为湿法刻蚀Si的掩膜。
所以最省事的办法就是,先在单晶硅表面做光刻胶掩膜曝光出图形,再蒸镀二氧化硅,liftoff之后可以用台阶仪测量。
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每天进步一点点
4楼
2013-07-15 16:54:46
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4楼
:
Originally posted by
鼓声点点
at 2013-07-15 16:54:46
1,能用椭偏仪测量最好了。
2,湿法刻蚀很难找到一种溶液,对SiO2的刻蚀速率大于Si的。一般SiO2常用来作为湿法刻蚀Si的掩膜。
所以最省事的办法就是,先在单晶硅表面做光刻胶掩膜曝光出图形,再蒸镀二氧化硅,lif ...
1. 湿法叫腐蚀,干法才叫刻蚀。
2. 无论是HF还是BOE,腐蚀SiO2的速率远大于Si。
3. 蒸镀氧化硅是制造氧化硅中最最难的一种,也是代价最大的一种。
4. 无论是蒸镀,溅射,还是PECVD,都有较大的温升,对光刻胶损害很大,所以需要特殊的耐高温光刻胶。所以lift off对于制造图形化的氧化层,是最笨的方法。
回答问题是好事儿,但是要确保答案正确,回答要靠谱,否则就是害人了。
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17楼
2013-07-16 12:36:09
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limeiyu53
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光刻胶是可行,可是你不觉得麻烦吗?掰开用SEM扫描一下断面不就知道厚度了,如果不愿意毁坏片子,可以用F20测试一下厚度
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3楼
2013-07-15 16:42:30
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yqxuefei
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椭偏仪可以直接测量滴
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5楼
2013-07-15 17:14:26
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2013-07-16 08:44:22
椭偏仪,XRD也可以,不过需要比较新的设备
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6楼
2013-07-15 17:21:50
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9楼
2013-07-15 19:44:18
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leeman911
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