| 查看: 464 | 回复: 2 | ||
[求助]
SEM如何处理样品降低电子入射深度 已有1人参与
|
|
我的样品很薄50nm的样，如果用3kv做SEM，一下子电子就穿透了。 有没有办法在样品上加一层什么东西，能使得电子入射深度降低？ 我收集的是背散射数据。 真心求教！ |
回复此楼» 猜你喜欢
金属材料论文润色/翻译怎么收费?
已经有216人回复
» 本主题相关价值贴推荐，对您同样有帮助:
- 关于电子探针的问题
已经有12人回复
- TEM制备横截面样品的技术交流！！！
已经有8人回复
- 扫描电镜的图像求高人帮忙分析一下
已经有22人回复
- 懂扫描电镜的大虾进来给小弟讲讲
已经有12人回复
- 【求助】能谱扫描成分的深度是多少？？？
已经有8人回复
- 【求助】SEM/EDX测试
已经有7人回复
- 【求助】扫描电镜附带的EDX能谱测定得到的是表面含量还是体含量
已经有12人回复
电镜达人 
捐助贵宾 (初入文坛)
- 应助: 4 (幼儿园)
- 金币: 318.7
- 散金: 136
- 帖子: 35
- 在线: 5.9小时
- 虫号: 3543798
- 注册: 2014-11-18
- 专业: 高分子材料结构与性能
2楼2014-12-27 22:31:42
3楼2014-12-29 09:58:22
20