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humanhn银虫 (小有名气)
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粉末法测xrd为什么要压片 已有3人参与
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各位虫友，在下有两个粉末xrd测试的问题向请教： 第一个是粉末法测xrd为什么要压片，为什么要使得粉末上表面非常平整？这个“非常平整”是多平整？什么数量级？ 第二是xrd粉末法测试的时候x射线的穿透深度大概是多少？这个问题也是因为第一个问题而产生的，因为如果x射线随意穿透，那我实在想不明白为什么会对粉末上表面有要求。 另外，对于量子点的XRD，一定要纯化得非常好么？有人说多次滴加在玻璃片上一层就可以，但是滴加了之后发现没有完全纯化好（已经尽力纯化了多次），还有一点点高沸点的配体或者是有机溶剂之类的液体，测试老师拿到样品之后使劲一压沾得到处都是很恶心有木有，我主要是想知道为什么要压平。 还望不吝赐教。多谢多谢！ |
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非常感谢回答，我隐约感觉明白一些了，不过还是不完全明白。细致一点说吧，我是这么想的： 首先定义三个面哈，第一，是整个粉末样品作为一个整体，这个整体有一个粗略的上表面，也就是测试的时候压的那个平面，我们将这个平面记为A面； 第二，是每个粉末颗粒和空气的界面，因为是粉末，所以不同粉末之间一定有空气空隙，这样X射线射过来一定会通过一系列小粉末颗粒和空气的界面，我们将这个平面记为B面； 第三，晶体内部的面，就是晶体学上说的晶面，记为C面。 现在问题是：如果X射线穿透深度非常深，那么是不是可以无视A面的存在呢？如果可以无视，那么还压什么呢？如果不是，而是在A面处反射是主要的，那么是不是我们就是在说B面不重要，或者等于在说X射线穿透深度很小。那么为什么样品多了信号会强呢？不管怎么说，我们测得结果是反应C面的吧，那么A面和B面起什么作用呢？ 希望我把意思说明白了。 |
4楼2014-10-11 09:08:51
