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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 材料工程 » 质量控制与检验 » XRD可以检测到纳米薄膜厚的晶体吗？
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wujin620

禁虫 (初入文坛)
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1楼 2014-04-11 10:06:53
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刺客yl

铁虫 (正式写手)
★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
如果基片为非晶态的话，应该可以检测到吧。如果是晶态基底，会有很大影响
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7楼2014-04-17 09:08:00
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gxytju2008

专家顾问 (文坛精英)
★ ★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
314977903: 金币+1, 欢迎专家常来交流~ 2014-04-15 16:08:33
单晶衍射的话。。最小好像能做到0.1mm吧
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2楼2014-04-11 11:49:13
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wujin620

禁虫 (初入文坛)
本帖内容被屏蔽
4楼2014-04-14 20:58:09
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gxytju2008

专家顾问 (文坛精英)
★ ★ ★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
314977903: 金币+2, 感谢专家的详细讨论~ 2014-04-15 16:14:27
引用回帖:
4楼: Originally posted by wujin620 at 2014-04-14 20:58:09
如果是镀层，如果镀层只有3um，那么用XRD是不是连基体+镀层的晶体都能衍射的出来？...

额不是这概念啊，我还以为你要做单晶衍射，连续3微米厚度的话，不好说，如果小入射角的话有可能看不到基底
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5楼2014-04-14 21:50:47
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