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suchaohua

新虫 (初入文坛)

[交流] 求大神帮我看看,这张SEM照片上垂直的两根线是纳米线么? 已有4人参与

 \"求大神帮我看看,这张SEM照片上垂直的两根线是纳米线么?\"

求大神指点  图片中两根垂直的线是纳米线么?

怎么判断这两根线是突起还是凹陷进去的?
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gxytju2008

专家顾问 (文坛精英)


小木虫: 金币+0.5, 给个红包,谢谢回帖
只能说都有可能,SEM二次电子成像原理在颗粒的边缘会特别亮,无法区分是高还是低,最简单区分的办法就是继续放大,建议换场发射试试,或者用背散射电子探头起伏模式看表面起伏信息
5楼2014-04-01 22:49:25
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sunshine61

新虫 (小有名气)


小木虫: 金币+0.5, 给个红包,谢谢回帖
内容已删除
11楼2014-05-07 15:22:01
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suchaohua

新虫 (初入文坛)

2楼2014-03-31 23:07:19
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papaverme

铁杆木虫 (正式写手)


小木虫: 金币+0.5, 给个红包,谢谢回帖
5k倍就想看纳米线么?如果你说的是那两根互相垂直的细白线,分辨率严重不够。放大到至少10万倍再说吧。
3楼2014-04-01 09:22:30
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suchaohua

新虫 (初入文坛)

引用回帖:
3楼: Originally posted by papaverme at 2014-04-01 09:22:30
5k倍就想看纳米线么?如果你说的是那两根互相垂直的细白线,分辨率严重不够。放大到至少10万倍再说吧。

这是无意看到的,本来就不是制备纳米线,去看的电镜比较一般,顶多放到万倍就不行了。
就想请教一下大神,根据SEM成像原理什么的,这两条白线是高出衬底其他地方,还是凹进去的?
4楼2014-04-01 21:07:58
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suchaohua

新虫 (初入文坛)

引用回帖:
5楼: Originally posted by gxytju2008 at 2014-04-01 22:49:25
只能说都有可能,SEM二次电子成像原理在颗粒的边缘会特别亮,无法区分是高还是低,最简单区分的办法就是继续放大,建议换场发射试试,或者用背散射电子探头起伏模式看表面起伏信息

谢谢!
6楼2014-04-02 10:47:36
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suchaohua

新虫 (初入文坛)

引用回帖:
5楼: Originally posted by gxytju2008 at 2014-04-01 22:49:25
只能说都有可能,SEM二次电子成像原理在颗粒的边缘会特别亮,无法区分是高还是低,最简单区分的办法就是继续放大,建议换场发射试试,或者用背散射电子探头起伏模式看表面起伏信息

 \"求大神帮我看看,这张SEM照片上垂直的两根线是纳米线么?-2\"

这上面看能下结论吗?
7楼2014-04-02 10:50:43
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papaverme

铁杆木虫 (正式写手)


小木虫: 金币+0.5, 给个红包,谢谢回帖
引用回帖:
4楼: Originally posted by suchaohua at 2014-04-01 21:07:58
这是无意看到的,本来就不是制备纳米线,去看的电镜比较一般,顶多放到万倍就不行了。
就想请教一下大神,根据SEM成像原理什么的,这两条白线是高出衬底其他地方,还是凹进去的?...

不是理化测试中心那台S4800么?也是冷场发射的电镜,没你说的那么差吧。

SEM的二次电子像衬度主要决定于样品表面局部的斜率(绝对值),仅凭斜率的因素是无法分辨凸起还是凹下去的。另外,衬度还受到原子序数、边界效应等因素的影响,分辨率这么差的话也说明不了什么问题。分辨率高些,再加上背散射信号应该能分辨出凸凹。

或者,用AFM。
8楼2014-04-02 12:23:21
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gxytju2008

专家顾问 (文坛精英)


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咋图看不到了,要不试试附件
9楼2014-04-02 17:20:33
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suchaohua

新虫 (初入文坛)

引用回帖:
8楼: Originally posted by papaverme at 2014-04-02 12:23:21
不是理化测试中心那台S4800么?也是冷场发射的电镜,没你说的那么差吧。

SEM的二次电子像衬度主要决定于样品表面局部的斜率(绝对值),仅凭斜率的因素是无法分辨凸起还是凹下去的。另外,衬度还受到原子序 ...

我记错了,这个事理化中心看的,第一次看的不是场发射电镜,不好意思。
谢谢。
10楼2014-04-02 17:58:45
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