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wu3tian

新虫 (小有名气)

[求助] 求XPS高手指教:CeO2立方体和八面体O1s谱图,咋晶格氧的峰这么小 已有1人参与

二氧化铈CeO2立方体和八面体负载1%的Pt,400摄氏度烧过,然后又在400℃通流动air或H2来氧化还原

H指还原过的,O指氧化过的,无论氧化还是还原均在反应气氛中降至室温,暴露在空去中,拿去测XPS。
为啥氧化过的样品晶格氧峰咋这么小啊,感觉跟文献对不上?XPS不是表征表面以下几个nm吗,晶格氧怎么着都该占主要啊?
我是想说octahedra的氧结合能大,更接近氧化硅氧化铝等惰性载体,能这么说不?
各位前辈有没有看到解释这种情况的文献啊?
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wu3tian

新虫 (小有名气)

送红花一朵
引用回帖:
5楼: Originally posted by zatnlsc at 2014-03-27 10:21:08
表面有charging,或者有一层很厚的其他污染物,不知全谱是否扫过, C1s 强吗?峰位校正了吗?
PS: CeO2的氧空位密度(111)<(100)<(110),间接说明你的想法方向是对的。但你需要证据。

您好,谢谢回复,每个样品均有明显的C1s峰,比铈的峰还强,都校正过,好像就是用C1s校正的。浸渍Pt时会引入C
那为啥立方体还原处理能显示出较强的体相氧,
按理说样品都400℃或600℃流动空气中烧过啊,为啥还有C,或者是空气中的CO2?
这是不是就是说O1s谱被C影响较严重,不能用了啊?
6楼2014-03-27 22:49:15
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wu3tian

新虫 (小有名气)

2楼2014-03-26 16:23:18
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wu3tian

新虫 (小有名气)

自己顶顶,在线等大神解惑啊
3楼2014-03-26 19:26:21
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wu3tian

新虫 (小有名气)

肿么没人啊,大家都不做氧化铈O1s的啊
4楼2014-03-26 22:07:03
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