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pof

铜虫 (小有名气)


[交流] SIMS的分辨率问题

用SIMS做表征,垂直于表面打下去,请问纵向的分辨率能达到多少?
举个例子,一个半导体多层结构,每一层某种元素掺杂/非掺杂交替,每一层厚度是200nm,这种情况下,用SIMS能清楚分辨掺杂层和非掺杂层吗,得到的结果中,非掺杂层中也有掺杂元素(还挺高,且与相邻的掺杂层浓度有关),请问这个现像是由结构生长过程中的diffusion引起的,还是由SIMS本身带来的误差?
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temple81

银虫 (小有名气)



小木虫: 金币+0.5, 给个红包,谢谢回帖
分辨率不清楚,但是200nm的厚度绝对可以区分;我们自己测试到50nm都可以确认。
至于第二个,一般都是扩散导致。
4楼2014-02-12 15:45:02
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