| 查看: 1252 | 回复: 1 | |||
eleven6226铜虫 (小有名气)
|
[求助]
用AFM测试硅片上层层组装的薄膜厚度，如何处理制备好的样品
|
| 大家好，我刚开始做层层自组装，想测试薄膜的厚度10nm左右，应该要怎么样处理样品，是否可以用刀子划一条痕迹，形成台阶，然后测试？还是要其他方法，希望高手指点下，在线等，十分急，非常感谢！ |
回复此楼» 猜你喜欢
《岩石力学与工程学报》修改后增刊复审，申请正刊的几率大吗？
已经有11人回复
-
Sustainable Engineering Materials首届青年编委招募启事
已经有17人回复
-
建筑环境与结构工程论文润色/翻译怎么收费?
已经有86人回复
-
混凝土材料类SCI期刊求推荐
已经有7人回复
-
哈工大申请考核制招收博士生9月28日截止
已经有20人回复
-
哈工大26年度博士申请考核第二轮
已经有5人回复
-
advance in structural engineering 期刊Awaiting EIC Assignmeng阶段十天了
已经有3人回复
-
ansys有限元分析求助
已经有2人回复
» 本主题相关价值贴推荐，对您同样有帮助:
- 石墨烯粉体溶于乙醇超声后旋涂到硅片上，照AFM时上面没样品，该怎么样制样啊！！！！
已经有14人回复
- AFM扫出来的结果和SEM不一致
已经有22人回复
- 硅片表面的超薄膜怎么表征？
已经有11人回复
- AFM的电学性能测试
已经有16人回复
- 【求助】求助：要做AFM前硅片怎么处理和旋涂？
已经有21人回复