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xps 数据的校正已有3人参与
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我的是不锈钢氧化膜的XPS数据。一般都用C1s的峰来校正，但我的数据中0s是C1s峰正常(284.8)，30s是有C1s峰(284.8)，但强度很弱，之后就没有C1s峰。现做XPS分峰，30s(包括30s)之后的Ni2P 2/3的峰位置普遍偏低约0.6ev，在此，弱弱的问一句，这是否在正常误差范围内，或是能否随意加上个0.4左右呢？加的话该怎么说明原因呢？ 新手，请大家多多指教。 |
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王晓萌: 金币+2, 应助指数+1, 谢谢分享，欢迎常来！ 2014-01-21 12:27:58
王晓萌: 金币+2, 应助指数+1, 谢谢分享，欢迎常来！ 2014-01-21 12:27:58
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同意17楼的意见。XPS也很多人为的不确定性，XPS拟合的结果必须有其物理或者化学意义，而不是看图谱拟合的误差多大。其次最好是XPS的结果是辅助说明其他测试结果的，或者与其他测试结果一致。 一般采用离子枪溅射以后，样品本身不含有C的，全谱里也不会出现C，所以不能再用C校准。 我一般的做法是先把表面的C（我一般用284.8，但是仍然有很多不确定性，从284.0-284.8都有报道）校准后，选择一个溅射前后估计不会变化的，且含量较高的峰作为标准峰。 对你的样品，比如选铁，先用C校准表面的铁，经过溅射后，就用溅射深度的铁峰与表面铁峰做对比，确定该深度其他峰的偏移量。 |
21楼2014-01-20 22:00:27
2楼2014-01-17 17:01:11
gxytju2008
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