| 查看: 671 | 回复: 4 | ||
| 当前只显示满足指定条件的回帖，点击这里查看本话题的所有回帖 | ||
[求助]
Ni80Cr20的高分辨透射电镜图片 出现一些奇怪的条纹 已有1人参与
|
||
|
用FIB制备的样品，厚度45nm [ Last edited by lijunjie84 on 2014-1-16 at 21:23 ] |
回复此楼» 猜你喜欢
中南大学易小艺课题组诚招2026申请-考核制博士生
已经有0人回复
-
海南师范大学招收化学博士（光电功能材料课题组招收博士研究生）
已经有10人回复
-
无机化学论文润色/翻译怎么收费?
已经有296人回复
-
求助几个团簇的cif
已经有0人回复
-
急求该反应的详细机理
已经有4人回复
» 本主题相关价值贴推荐，对您同样有帮助:
- 请各位高手给看一下 Agilent 7700x ICP-MS的配置，急急急！
已经有10人回复
- 福州大学翁志强老师课题组招收金属有机或有机化学博士后研究人员
已经有3人回复
- 【其它】加锡提高耐腐蚀性，新日铁住金以低价为卖点上市新型不锈钢
已经有2人回复
- 【转帖】京车展综述：“新能源车”纷纷出展，小型车产品线得以强化
已经有2人回复
- 【分享】Fujitsu MOPAC 2006.1 for AIX Power5并行版
已经有9人回复
westdragon
木虫 (著名写手)
九五之尊
- 应助: 11 (小学生)
- 金币: 4464.5
- 散金: 58
- 红花: 8
- 帖子: 1378
- 在线: 565.5小时
- 虫号: 1222691
- 注册: 2011-03-06
- 性别: GG
- 专业: 粉末冶金与粉体工程
4楼2014-04-23 20:23:58
2楼2014-01-15 21:54:49
|
最近做了一些Ni80Cr20和Ni58Cr42薄膜电迁移的实验，并且做了TEM，对得到的一些图片尚有些疑问，查资料没找到相关的解释，希望得到您的指导。样品是用FIB制备的，厚度大概45nm。 1.图一是Ni58Cr42的STEM低倍照片，根据TEM的工程师说，这个模式下可以清楚的辨认出晶粒，但是拍出的照片看不出晶粒，不知道是什么原因，样品的原因还是拍照的原因？ 2.图2、3、4、5、6是Ni80Cr20的TEM高倍照片，出现了一些奇怪的条纹，搞不清楚这些条纹是什么。 |
» 本帖附件资源列表
-
欢迎监督和反馈：小木虫仅提供交流平台，不对该内容负责。
本内容由用户自主发布，如果其内容涉及到知识产权问题，其责任在于用户本人，如对版权有异议，请联系邮箱：xiaomuchong@tal.com - 附件 1 : 2.png
- 附件 2 : 3..png
- 附件 3 : 4..png
- 附件 4 : 5..png
- 附件 5 : 6..png
2014-01-18 12:32:45, 369.84 K
2014-01-18 12:32:48, 346 K
2014-01-18 12:32:49, 367.23 K
2014-01-18 12:32:50, 354.88 K
2014-01-18 12:32:51, 363 K
3楼2014-01-18 12:33:20