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Ni80Cr20的高分辨透射电镜图片 出现一些奇怪的条纹 已有1人参与
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用FIB制备的样品，厚度45nm [ Last edited by lijunjie84 on 2014-1-16 at 21:23 ] |
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2楼2014-01-15 21:54:49
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最近做了一些Ni80Cr20和Ni58Cr42薄膜电迁移的实验，并且做了TEM，对得到的一些图片尚有些疑问，查资料没找到相关的解释，希望得到您的指导。样品是用FIB制备的，厚度大概45nm。 1.图一是Ni58Cr42的STEM低倍照片，根据TEM的工程师说，这个模式下可以清楚的辨认出晶粒，但是拍出的照片看不出晶粒，不知道是什么原因，样品的原因还是拍照的原因？ 2.图2、3、4、5、6是Ni80Cr20的TEM高倍照片，出现了一些奇怪的条纹，搞不清楚这些条纹是什么。 |
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westdragon
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