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adutmac1

新虫 (小有名气)

[求助] 晶粒度的测试与计算已有3人参与

看到有些文章中提到用XRD来测试并计算晶粒的大小以及微观畸变情况,它提到了一个公式,说试剂衍射线形的半高宽与材料的晶粒粒径和微观畸变满足这个公式,通过拟合来算...斜率表示晶粒度,截距表示畸变程度...有没有哪位大神做过,求交流啊,自己也没做过XRD,光看文献看不懂怎么计算的
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adutmac1

新虫 (小有名气)

引用回帖:
2楼: Originally posted by Shyrain at 2013-12-19 19:30:07
额,不知道你是做什么材料的晶粒度,没有用过XRD来测试,都是用的腐蚀晶粒采用金相显微镜拍照然后通过晶粒度的计算的标准来进行测量计算的

我是做紫铜材料的晶粒度 用腐蚀液可以在光镜下看清楚 大概是几个微米大小的晶粒 估计最小的能到1um左右 只是想再用XRD分析一下 看能不能通过计算能更加精确点
3楼2013-12-19 19:58:00
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Shyrain

木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

★ ★
感谢参与,应助指数 +1
adutmac1: 金币+2, ★★★很有帮助 2013-12-20 09:01:24
额,不知道你是做什么材料的晶粒度,没有用过XRD来测试,都是用的腐蚀晶粒采用金相显微镜拍照然后通过晶粒度的计算的标准来进行测量计算的
2楼2013-12-19 19:30:07
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Shyrain

木虫 (正式写手)

引用回帖:
3楼: Originally posted by adutmac1 at 2013-12-19 19:58:00
我是做紫铜材料的晶粒度 用腐蚀液可以在光镜下看清楚 大概是几个微米大小的晶粒 估计最小的能到1um左右 只是想再用XRD分析一下 看能不能通过计算能更加精确点...

我觉得你这个晶粒度的级别用显微镜50X或者100X的物镜多选择一些视场(标准里面规定好像要保证每个视场要有50个晶粒以上吧,好久不做了有些记不清了,你可以去查一下),然后采用标准里面的截线法进行测量取统计平均值就可以了啊,晶粒度本来就是一个统计大量数据得出的结论,个人觉得这样统计出来就够了,没有必要进行所谓的XRD分析了
4楼2013-12-19 22:37:21
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peterflyer

木虫之王 (文学泰斗)

peterflyer


【答案】应助回帖

★ ★ ★
感谢参与,应助指数 +1
adutmac1: 金币+3, ★★★很有帮助 2013-12-20 09:00:16
楼主说的应该是Sherrer公式吧。它确实是根据衍射峰的半高宽计算纳米晶粒的晶粒度的,超过100nm,公式就不适用了。
5楼2013-12-19 23:30:46
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