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baiyangimr

木虫 (正式写手)

[求助] XRD测量微观应变与亚晶粒尺寸

实验室现在有几个样品,表面存在不同的加工硬化层,想利用XRD测量下近表面变形层的微观应变与亚晶粒尺寸,可是用Jade6.5计算出来的亚晶粒尺寸是负值,而且拟合的结果线性也不好,计算方法是 FWHM cosθ vs.sinθ,求斜率即是;
之前利用别人的软件,借助Scherrer-Wilson方程也结算过,但是现在用着不方便了,现在还有人利用Voiget函数线性分析法计算,但是不会用,也没有类似软件;
求大侠介绍下计算的方法,谢谢!急求!!
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zzcentaurus

铁虫 (初入文坛)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
用GSAS或者Fullprof,所谓的结构精修
2楼2013-04-03 17:19:27
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baiyangimr

木虫 (正式写手)

引用回帖:
2楼: Originally posted by zzcentaurus at 2013-04-03 17:19:27
用GSAS或者Fullprof,所谓的结构精修

您能仔细讲讲如何计算吗?谢谢!这两个软件都没有听说过
3楼2013-04-04 18:01:09
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zzcentaurus

铁虫 (初入文坛)

引用回帖:
3楼: Originally posted by baiyangimr at 2013-04-04 18:01:09
您能仔细讲讲如何计算吗?谢谢!这两个软件都没有听说过...

这个也没法仔细讲。。。两个软件都是用于xrd结构精修,用结构模型来拟合你的实验结果。而你所想得到的微观应力和晶粒尺寸都是拟合过程中的参数,到最后你将计算的xrd图谱与你的实验图谱拟合得非常好了,就自然得到了靠谱的参数,你想要的所有结构信息就有了。版上有很多对这两个软件的介绍以及使用经验介绍,你可以搜来看看。
4楼2013-04-05 17:42:08
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宋鹏

金虫 (正式写手)

引用回帖:
4楼: Originally posted by zzcentaurus at 2013-04-05 17:42:08
这个也没法仔细讲。。。两个软件都是用于xrd结构精修,用结构模型来拟合你的实验结果。而你所想得到的微观应力和晶粒尺寸都是拟合过程中的参数,到最后你将计算的xrd图谱与你的实验图谱拟合得非常好了,就自然得到 ...

问您下,利用半高宽求得微观应力后如何来计算其误差?主要是半高宽误差如何求得?
5楼2013-08-18 17:37:21
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