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问天麦饼

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[求助] 测量表面电荷密度(精彩回答有金币追加)

测量半导体的时候,发现有一下方法。
     1. EFM:样品的表面电荷决定库仑力。用F和电荷的关系,先拿已知密度的样品做个基准,然后和这个calibration比较,比值便知道,那么未知样品的密度也就知道了(http://epub.cnki.net/kns/detail/ ... ode=CJFQ&pr

     2.EFM:http://dx.doi.org/10.1063/1.3028639(原文在此)。最后一页,右上角的公式,意思说能带弯曲程度V0的根号和电荷成正比。

     3.除此之外呢?
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