| 查看: 375 | 回复: 1 | ||
| 本帖产生 1 个 博学EPI ,点击这里进行查看 | ||
[求助]
运用不同测试方法测试GaN或其他半导体薄膜的厚度区别
|
||
| 用白光干涉仪与SEM测量GaN薄膜厚度的区别?为什么? |
» 猜你喜欢
职称评审没过,求安慰
已经有41人回复
回收溶剂求助
已经有7人回复
硝基苯如何除去
已经有3人回复
A期刊撤稿
已经有4人回复
垃圾破二本职称评审标准
已经有17人回复
投稿Elsevier的Neoplasia杂志,到最后选publishing options时页面空白,不能完成投稿
已经有22人回复
EST投稿状态问题
已经有7人回复
毕业后当辅导员了,天天各种学生超烦
已经有4人回复
求助文献
已经有3人回复
三无产品还有机会吗
已经有6人回复
» 本主题相关价值贴推荐,对您同样有帮助:
请教同质外延及异质外延的不同
已经有7人回复
什么是外延法制备薄膜?不是外延法是什么方法??
已经有6人回复
请教异质外延生长晶体薄膜的晶向与衬底材料晶向的关系~【回答有帮助的送红花】
已经有39人回复
863计划“高效半导体照明关键材料技术研发”重大项目申请指南
已经有12人回复
liu2004m
荣誉版主 (文坛精英)
- 博学EPI: 868
- 应助: 3918 (副教授)
- 贵宾: 14.059
- 金币: 74521.7
- 散金: 12860
- 红花: 124
- 沙发: 2
- 帖子: 32294
- 在线: 1759.9小时
- 虫号: 285887
- 注册: 2006-10-14
- 性别: GG
- 专业: 无机材料化学
- 管辖: 有奖问答
2楼2013-09-05 14:34:48













回复此楼