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wtr083708

木虫 (小有名气)

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专业: 半导体材料

[求助] ICP-AES测锑（Sb）的误差

小弟前段时间送样ICP-AES测一个半导体样品，Sb的理论质量分数应该是20%左右，但测出的结果却是约26%。三个成分相近样品都是如此。XRD分析分析样品是纯相；SEM附带的EDS测出的Sb也没有很离谱。所以我想请教的是ICP-AES在测试和分析Sb时有没有可能出现较大的误差？
谢谢！

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1楼 2013-09-01 18:30:01

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Caokey

新虫 (初入文坛)

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引用回帖:

11楼: Originally posted by xzh6051 at 2013-09-07 22:01:49
是这样的楼主，ICP测微量是非常准确的，一般质量分数大于5%就不是很准确了，一般所有的仪器波动所造成的仪器误差都在1%-5%之间，所有元素含量越高，测量值就越是不准确。抛开你测这种元素时的选择谱线问题和共存元素 ...

请问一下，这个ICP测试的时候，系统误差（具体到每一种元素比如，K，Na）可以获得吗？这个应该是跟仪器的技术指标有关系，但是为什么我问那个测试人员，好像没有具体元素的指标？但是我再看论文时候却看到有人在论文中写这个。