| 查看: 979 | 回复: 2 | ||
[求助]
椭偏移测厚度的问题
|
我使用的样品是以重掺杂的4H-SiC作为衬底，衬底上面由CVD沉积了12μm的4H-SiC薄膜，在此基础上，又长了20nm左右的Al2O3. 我用椭偏移测量了Al2O3的厚度，测试曲线如图所示，在700到800nm之间出现了不同强度的振荡，请问这是什么原因造成的，对测量结果有影响吗？ 2013-07-17-as deposited.png |
回复此楼» 猜你喜欢
博士延得我，科研能力直往上蹿
已经有7人回复
-
退学或坚持读
已经有27人回复
-
面上基金申报没有其他的参与者成吗
已经有5人回复
-
有70后还继续奋斗在职场上的吗？
已经有5人回复
-
遇见不省心的家人很难过
已经有22人回复
-
多组分精馏求助
已经有6人回复
» 本主题相关价值贴推荐，对您同样有帮助:
- 第一次做粉末紫外可见漫反射谱，不知道对不对
已经有9人回复
- 氧化铟薄膜XRD测试
已经有6人回复
- 磁滞回线分析（薄膜样品）
已经有8人回复
- XRD的衍射峰会随着材料的尺寸\形貌偏移吗?
已经有17人回复
- 【求助】傅立叶变换红外光谱仪测定溶液该如何进行试样的制备
已经有10人回复
- 【分享】CAD2004完全笔记-2
已经有5人回复
- 【求助】DSC测熔点
已经有20人回复
szzpanda
木虫 (正式写手)
- 应助: 28 (小学生)
- 金币: 2829.8
- 红花: 2
- 帖子: 397
- 在线: 298.2小时
- 虫号: 1483154
- 注册: 2011-11-08
- 专业: 催化化学
2楼2013-07-19 10:03:54
3楼2016-03-27 07:55:46