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MANOWAR

金虫 (正式写手)

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专业: 无机材料化学

[求助] 请教一下XRD衍射峰强度的问题~

请教一个问题：外延生长单晶薄膜，然后采用XRD进行2θ-ω测试，按理来说，不同材料层会对应一个峰位，但是这个峰位的峰的强度与什么有关？比如厚度、材料质量等~
如果某个层很薄，那么再假设质量没问题的情况下，相比于厚层，是不是其衍射峰强度会弱得多？

如果xrd测试时，最高衍射峰的强度为60万，而另个一薄层的衍射峰强度只有140左右~这个如何解释？

请高手不吝赐教~

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1楼 2013-05-30 11:21:18

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MANOWAR

金虫 (正式写手)

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引用回帖:

12楼: Originally posted by snow_mount at 2013-07-12 10:28:09
看了一下，衍射峰的强度主要跟电子密度以及光照射的总体积，以及散射光间的相干性有关；
你的问题是只考虑厚度的情况下，衍射峰的强度与厚度的关系，
如果薄膜不太后，几百nm内，我们可以不考虑X光在穿透 ...

我大概明白你的意思了，但是也有一个问题，就是如果采用小角度掠射，XRD强度整体也变弱，不知道这会不会对峰的分辨产生影响~