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[求助]
紫外可见吸收扫基线问题
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使用U-4100紫外可见分光光度计时,先要用两个参比样品扫基线,请问大家这一步的作用是什么呢?为何必须要进行这一步呢?如果是要校正什么东西,那是校正什么呢?又是基于什么原理去校正的?如果使用的两个参比样品不是完全相同,或说差距较大会怎样呢?请大侠不吝赐教,谢谢 |
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