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lootus

木虫 (小有名气)

[求助] 电镜观察样品断面的技巧

我先介绍下样品,硅片表面有一层微相分离的聚合物薄膜,膜厚约130nm,薄膜具有片层纳米结构,尺寸约40nm,用扫描电镜完全可以直接观察样品表面的纳米结构。
希望看这种纳米结构是否贯穿于整个膜厚(130nm),所以要看断面。我目前是直接将硅片裂开,选比较整齐的断面,直接观察。这样只能看到这一层薄膜的存在,完全无法观察到断面的细节(40nm左右的结构)。
请问有什么好办法?包括制样和观察。谢谢!
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lootus

木虫 (小有名气)

引用回帖:
3楼: Originally posted by todouwei at 2012-12-28 12:30:58
透射电镜可以解决你的烦恼,但磨断面又是一件比较烦恼的事

透射电镜制样也是很麻烦的啊,有没有什么好办法制样?要看断面。谢谢
4楼2012-12-29 08:48:41
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lootus

木虫 (小有名气)

引用回帖:
6楼: Originally posted by taixixiansheng at 2012-12-29 10:06:11
将你的硅片提前用笔式硅片划刀划一条线 然后放在液氮里面冻一会 捞出掰断 这样的断面可能会找到齐整的地方 不过你这几十纳米的东西也够呛 还有一种就是用切片 可以做TEM SEM

冷冻也做过,效果仍然不好,看不清楚。
硅片也可以切片?能否告诉下具体怎么操作?谢谢
8楼2012-12-31 09:04:08
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