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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 化学化工区 » 分析 » 光谱分析 » 单晶 Si 测试 FTIR （红外傅里叶光谱）的问题讨论
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王致远

金虫 (著名写手)

[交流] 单晶 Si 测试 FTIR （红外傅里叶光谱）的问题讨论

我用 PLD在Si（100）上镀了一层薄膜，厚度200-300nm，薄膜致密，接触紧密。当我用FTIR 测试薄膜样品的红外谱时发现：空Si片的 透射强度小于薄膜样品的透射强度，这样导致 扣除背底后，透射率＞1.   刚刚搜索了一下小木虫 发现2008年有一个相似的帖子，但是没有给出解释 就不了了之了。网址如下：
http://muchong.com/bbs/viewthread.php?tid=1003747
我本人认为可能是 Si片 抛光面反射较强，反射了一部分光，而我的样品虽然也比较平，但是还是没有Si片的反射强。所以空Si片的透射反而低了。  不知道我的解释对么？ 大家有什么有相似的经历么？
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1楼 2012-06-13 10:46:43
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longxinhubao

金虫 (小有名气)
★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
这或许算是“增透膜”？ 楼主可以尝试下用反射来做
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3楼2012-06-14 08:37:15
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王致远

金虫 (著名写手)
这种情况与样品有关，还是与背底Si片有关？ 有没有人也遇到这样的情况，怎么解决的呀？
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2楼2012-06-13 11:07:06
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王致远

金虫 (著名写手)
引用回帖:
3楼: Originally posted by longxinhubao at 2012-06-14 08:37:15
这或许算是“增透膜”？ 楼主可以尝试下用反射来做

不会吧，薄膜厚度200nm。 傅里叶红外是单色的，不满足半波的要求吧？
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4楼2012-06-14 10:36:42
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sbffgef298

金虫 (小有名气)
★ ★ ★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
soundhorizo: 金币+2, 应助指数+1, 鼓励讨论 ^^ 2012-07-01 13:46:54
楼主，你是要做薄膜的红外光谱，用空硅片做背景，用镀膜的片做样品吧？
其实还有一种做法。你把空硅片的图和镀膜片的图都打出来，做差减光谱。这样就不会遇到前面的问题了。
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5楼2012-07-01 13:38:57
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