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单晶 Si 测试 FTIR （红外傅里叶光谱）的问题讨论
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我用 PLD在Si（100）上镀了一层薄膜，厚度200-300nm，薄膜致密，接触紧密。当我用FTIR 测试薄膜样品的红外谱时发现：空Si片的 透射强度小于薄膜样品的透射强度，这样导致 扣除背底后，透射率＞1. 刚刚搜索了一下小木虫 发现2008年有一个相似的帖子，但是没有给出解释 就不了了之了。网址如下： http://muchong.com/bbs/viewthread.php?tid=1003747 我本人认为可能是 Si片 抛光面反射较强，反射了一部分光，而我的样品虽然也比较平，但是还是没有Si片的反射强。所以空Si片的透射反而低了。 不知道我的解释对么？ 大家有什么有相似的经历么？ |
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