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【求助】单晶Si基片上红外光谱的测量
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请问, 在单晶Si片上镀膜,做红外光谱测试(基片与膜不分离)时,需不需要什么附件? 今天,去做过测试,空白Si基片与镀膜后的样品,曲线完全重合。我的膜很薄,200nm左右,不知道膜的厚度对测试结果有没影响? 文献中有很多在Si片上镀膜后做的FTIR测试,如果有知道者,望不吝赐教! [ Last edited by 张甜 on 2008-10-13 at 20:51 ] |
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