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【求助】单晶Si基片上红外光谱的测量
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请问， 在单晶Si片上镀膜，做红外光谱测试（基片与膜不分离）时，需不需要什么附件？ 今天，去做过测试，空白Si基片与镀膜后的样品，曲线完全重合。我的膜很薄，200nm左右，不知道膜的厚度对测试结果有没影响？ 文献中有很多在Si片上镀膜后做的FTIR测试，如果有知道者，望不吝赐教！ [ Last edited by 张甜 on 2008-10-13 at 20:51 ] |
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