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求问一个XRD问题
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| 我的样品经过特殊处理之后表面晶粒比较小，基体晶粒尺寸较大，想用XRD来计算表面晶粒尺寸。现在的问题是，普通的2theta/theta扫描X射线的透射深度比较深，反应的不是最表面的信息，掠入射，听说这样不对称扫描不适合用来计算晶粒大小。目前没有条件做TEM，简单的金相又浸蚀不出来那么小的晶粒。各位大侠出个招吧，最好用XRD就能解决的。 |
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zhyq8767: 金币+1, 感谢交流 2012-05-27 13:34:14
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6楼2012-05-27 13:08:48
7楼2012-05-27 14:14:52
8楼2012-05-28 09:06:03