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求问一个XRD问题
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| 我的样品经过特殊处理之后表面晶粒比较小,基体晶粒尺寸较大,想用XRD来计算表面晶粒尺寸。现在的问题是,普通的2theta/theta扫描X射线的透射深度比较深,反应的不是最表面的信息,掠入射,听说这样不对称扫描不适合用来计算晶粒大小。目前没有条件做TEM,简单的金相又浸蚀不出来那么小的晶粒。各位大侠出个招吧,最好用XRD就能解决的。 |
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2楼2012-05-24 21:45:53
3楼2012-05-25 08:33:01
4楼2012-05-25 10:25:17
5楼2012-05-25 10:26:16
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感谢参与,应助指数 +1
zhyq8767: 金币+1, 感谢交流 2012-05-27 13:34:14
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zhyq8767: 金币+1, 感谢交流 2012-05-27 13:34:14
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6楼2012-05-27 13:08:48
7楼2012-05-27 14:14:52
8楼2012-05-28 09:06:03










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